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影像测量仪工件高度测量方案分析
2017-11-02 | 行业资讯

影像测量仪是建立在CCD数位影像的基础上,依托于计算机屏幕测量技术和空间几何运算的强大软件能力而产生的,集光学、机械、电子、计算机图像处理技术于一体的高精度、高效率、高可靠性的测量仪器。影像测量仪也称二次元影像测量仪,是因为主要针对于X、Y轴方向进行测量,基于目前众多工件对高度的测量要求越来越高,因此很多影像测量仪加装了Z轴测量功能,被称为2.5次元影像测量仪。同创仪器作为影像测量仪专业生产厂家,就其对工件高度测量的方式进行详细分析。


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▲同创影像测量仪


影像测量仪测量工件高度目前主要采用非接触测量与接触式测量,这两种测量方式均能对工件的高度进行精准测量,但是工作原理及测量方法是完全不同的,因此其所针对的产品及优缺点也各不一样。


影像测量仪非接触测量.jpg    影像测量仪接触式测量.jpg

▲影像测量仪非接触测量                                                             ▲影像测量仪接触性测量


非接触测量所采用的是光学影像测量技术,通过软件在光学对焦过程中,自动计算出两个表面清晰的Z轴坐标值,从而测量出高度值。非接触式测量主要适用于表面反光型比较好的产品,这样在影像测量过程中才能得出比较准确的座标值。同时非接触测量也适用于材质较软,易受外力挤压变形的产品。

非接触式测量使影像测量仪不再拘泥于X、Y轴测量,在Z轴方向的测量变得更加方便、快捷、精准。但是由于采用的是光学影像技术,因此对工件表面反光提出了很高要求,而工件表面的弧形高度测量的精度还是存在有比较大的局限性。


接触式测量采用的是加装测头,其工作原理与三坐标测量机类似。测头与工件表面接触,当测球沿着工件的几何型面移动时,就可以得出被测几何面上各点的坐标值。将这些数据送入计算机,通过相应的软件进行处理,就可以精确计算出被测工件的几何尺寸,现状和位置公差等。加装测头的影像测量仪也被称为复合式影像测量仪,因为其综合了光学传感器及接触式测量系统。由于接触式测量需要测针与工件表面进行接触,因此适用于表面反光性较差,同时材质比较硬的工件,比如注塑件等。

影像测量仪加装测头测针使其在高度方面的测量得到了进一步加强,不再局限于平面的几何光学,对比非接触测量,其在高度的测量更加精准,同时适用于工件弧形高度的测量。但由于探针的探头无法旋转测量,所以在功能上还是有比较大的局限性,无法像三坐标测量机那样完成多维空间几何关系的精确测量。


同创仪器拥有13年的精密仪器研发、生产、销售经验,目前所生产的二次元影像测量仪针对工件高度测量要求,有着完整的解决方案,所采用的均为行业顶尖的扩展方案,非接触测量采用的是日本KEYENCE的激光测头,而接触式测量使用的是英国RENISHAW接触式测头,完全能够应对客户对影像测量仪高度测量的要求。同创仪器还是蔡司三坐标测量机的授权代理商,针对客户提出的更高要求的多维结构测量需求,也能有更全面的解决方案。